Comparaciones de lentes y cámaras
Compare el último elemento resuelto correctamente manteniendo constantes la apertura, la exposición y el procesamiento.
Dianas ópticas de ensayo de resolución USAF 1951
Haga mensurable el detalle fino.
Patrones de resolución USAF 1951 de vidrio a medida para cámaras, microscopios y lentes. Especifique grupo, elemento, frecuencia de pares de líneas, polaridad y sustrato.
Selección de productos
Lo que es y lo que hace
Un objetivo USAF 1951 contiene grupos etiquetados de tres barras horizontales y tres verticales. Los elementos progresivamente más finos proporcionan una referencia reconocida para el menor detalle que un sistema de imagen puede separarse fiablemente.
Cuándo elegirlo
Utilícela para leer la resolución mediante elementos numerados, comprobar el enfoque durante el montaje o comparar configuraciones ópticas. Registre el resultado en ambas direcciones de barras junto con la distancia de trabajo y el aumento utilizados.
Pares de líneas, paso y frecuencia espacial
Un patrón USAF 1951 es una carta de resolución óptica con elementos numerados de tres barras horizontales y verticales. Evalúa lentes, cámaras o microscopios comprobando qué pares de líneas siguen siendo distinguibles en la imagen.
Especifique el rango de grupo y elemento en el objetivo. El mejor elemento resuelto describe un resultado bajo una configuración óptica particular; no es una cámara incondicional o una calificación de lente.
| Frecuencia del patrón | f = 2^(G + (E −1)/6) lp/mm; E = 1–6 |
|---|---|
| Línea y brecha | Con duty 50%, cada ancho es 500/f µm |
| Condiciones de prueba | polaridad, magnificación, iluminación y criterio de contraste |
Elija el rango de grupo y elemento para la escala de imagen esperada. Utilice un objetivo de borde inclinado cuando la tarea requiere una respuesta de frecuencia espacial medida en lugar de una lectura de línea visual.
Una referencia común para el detalle resuelto
Microscopio y configuraciones de inspección
Compruebe todo el trayecto óptico, incluidos objetivo, adaptador de cámara y muestreo, en las posiciones del campo utilizadas para la inspección.
Seleccionar rango de frecuencia y formato de visualización
| Elección | Base de selección |
|---|---|
| Rango de grupos y elementos | Adapte los elementos más finos y más gruesos al detalle esperado y al aumento de imagen. El contorno del vidrio no determina la resolución. |
| Regiones claras y opacas | Seleccione barras oscuras en un campo claro o barras claras en un campo opaco para el arreglo de iluminación. |
| Campo activo y montaje | Mantenga los grupos requeridos visibles dentro del campo de vista, con espacio para el soporte fuera del área de prueba. |
USAF proporciona frecuencias discretas etiquetadas. Una estrella Siemens compara el detalle radial en muchas direcciones; un borde inclinado soporta el análisis SFR basado en software.
Convertir grupo y elemento a ancho de líneaEN
Elegir la polaridad del patrón
La diana positiva mostrada arriba tiene barras oscuras sobre campo claro. Esta versión negativa invierte el contraste, mostrando barras claras sobre campo oscuro. Ambas usan elementos de tres barras horizontales y verticales numerados; elija las regiones claras y opacas según la iluminación prevista.
Establece el lado del patrón y el rango requerido del grupo / elemento en el dibujo.
Formatos y opciones de patrón
Formato cuadrado de campo claro
Formato de 76.2 mm
Grupos horizontales y verticales de tres barras.
Campo claro 76.2 mm / vista alternativa
76.2 mm cuadrado
Grupos horizontales y verticales de tres barras con un sustrato cuadrado dimensionado.
Formato cuadrado de campo opaco
Formato de 76.2 mm
Opposite polaridad de patrón; confirme el rango de grupo requerido.
Formato compacto de campo opaco
Formato de 50.8 mm
Pequeño patrón central dentro de un área de montaje más grande.
Formato cuadrado pequeño
Formato de 25.4 mm
Para una huella de montaje más pequeña.
Formato circular
Ø25.4 mm
Sustrato circular para un soporte óptico compatible.
Patrón de miniatura / vista de polaridad emparejada
Formato de referencia de 15 mm
La fotografía compara dos polaridades; confirma el esbozo del sustrato en el dibujo.
Donde se utiliza este producto
Comprueba el detalle de imagen resuelto como ensayo aparte tras la calibración geométrica.
Elementos de tres barras numerados para lecturas de resolución por escalones.
Inspección y entrega
La inspección abarca los anchos críticos de barra, los espacios iguales, la orientación, las etiquetas y los defectos de las zonas transparentes u opacas. La geometría de la diana y el detalle que resuelve el sistema de imagen se evalúan por separado.
Se suministra un patrón de vidrio con el rango, la polaridad y el formato de sustrato seleccionados. Los registros dimensionales se especifican en el pedido.
Preguntas frecuentes
¿Qué significa 228 lp/mm?
Significa unas 228 periodos oscuro/claro por milímetro en el plano indicado. En el grupo 7, elemento 6, la frecuencia nominal es 228,07 lp/mm y una barra de ancho igual mide unos 2,19 µm. No es lo mismo que 228 píxeles por milímetro.
¿La frecuencia de la diana iguala la resolución del sistema?
No. La resolución se evalúa a partir de la imagen capturada bajo las condiciones ópticas y de muestreo acordadas.
Guías técnicas para este producto
Capacidades de fabricación
Algunas páginas de productos y contenido técnico solo están disponibles en inglés. Los enlaces marcados EN abren una página en inglés.