Retículos de cruz
Retículos
Retículos para ocular de microscopio, escalas de medida, cuadrículas de vidrio y patrones ópticos personalizados para observación, alineación y calibración.
Puntería, centrado y alineación
Escalas y medida óptica
Células, partículas y recuento
Retículos de cuadrícula de recuento
Componentes de cámaras de recuento para microscopía
Cubreobjetos para cámaras de recuento
Retículos Walton–Beckett para recuento de fibras
Retículos de comparación de tamaño de partículas
Retículos para recuento de partículas farmacéuticas
Portaobjetos de referencia para inspección de limpieza
Metalografía y microscopía cuantitativa
Cuadrículas ópticas, coordenadas y ventanas
Rejillas TEM de malla cuadrada
Rejillas TEM hexagonales
Rejillas TEM de malla rectangular
Rejillas TEM de gran área abierta
Rejillas TEM de barras paralelas
Rejillas TEM localizadoras
Rejillas TEM de coordenadas
Rejillas TEM con ranuras
Rejillas TEM con orificios circulares
Rejillas TEM especializadas
Patrones de rendijas ópticas sobre vidrio
Patrones de microaperturas circulares sobre vidrio
Redes de amplitud de cromo
Encuentre el producto adecuado para su tarea
| Tarea o elección | Proceso del producto | Por qué importa |
|---|---|---|
| Centrar o apuntar | Cruz / cuadrante / círculos concéntricosEN | Sitúe una referencia visible en la imagen óptica para comparar centro, dirección o simetría. |
| Medir longitud o ángulo | Escala graduada / escalas cruzadas / transportadorEN | Seleccione la magnitud y calibre la longitud en el plano de la muestra al usar divisiones del ocular. |
| Contar o muestrear | Cuadrícula / matriz de puntos / patrón de estereologíaEN | El patrón sirve para un método de muestreo; contar áreas no determina por sí solo un volumen de líquido. |
| Comparar una característica | Referencias de partículas, granos e inclusionesEN | Adapte el patrón comparador y la configuración del microscopio al método de examen específico. |
Reúna las opciones seleccionadas en una especificación
- Diseño del patrón y características de referencia
- Apertura útil y dimensiones del sustrato
- Tamaño de característica, escala y registro
- Criterios de contraste, limpieza e inspección
La referencia adecuada en su campo visual.
TL OPTIK convierte escalas, cruces y cuadrículas de precisión en componentes de instrumentos. Para observación, alineación o recuento, defina primero el campo útil, el ancho de línea y la separación de divisiones. Después revisamos las dimensiones del sustrato, la orientación y las referencias de montaje según el plano del instrumento.
Consultar sobre su diseño de retículoGuías técnicas relacionadas
Notas de selección
Las retículas incorporan escalas, cruces, círculos o cuadrículas al campo óptico para observación, alineación y medición.
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