Convierta las divisiones del microscopio en una longitud física fiable calibrando el sistema de observación antes de medir una muestra.
Lo que el observador lee en un microscopio de medición son divisiones: graduaciones de ocular superpuestas a la imagen de la muestra. Convertir esas divisiones en una longitud requiere una referencia física conocida en el plano de la muestra, una calibración realizada a la ampliación realmente en uso y un patrón que coincida con el método de medición o conteo. TL OPTIK suministra las escalas y retículas de vidrio; el microscopio, sus objetivos y el software de análisis pertenecen al instrumento.
Un micrómetro de platina coloca una longitud física conocida donde se sitúa la muestra; una retícula de ocular superpone graduaciones en la trayectoria de visión. Altraer ambas escalas a la vista se obtiene la longitud por división para esa configuración óptica exacta. Un factor tomado de una ficha técnica, o de otro objetivo, no es una calibración para este.
Cambiar el objetivo, el ocular o cualquier óptica intermedia cambia lo que significa cada división. El factor de conversión debe registrarse junto con el objetivo, el ocular y la ampliación usados para obtenerlo, y restablecerse tras cualquier cambio. Reutilizar un factor entre ampliaciones crea un error sistemático de tamaño en cada lectura tomada con él.
Las escalas lineales, rejillas, anillos y divisiones angulares sirven a protocolos distintos: medición de longitud, conteo sistemático, comparación de tamaño, comprobaciones de orientación. Las reglas de conteo y el área de muestreo pertenecen al método, no al vidrio; la retícula aporta la referencia geométrica. El diámetro de ajuste, el espesor y la ubicación del plano focal deciden si el patrón puede instalarse donde el método lo necesita.
| Punto de selección | Micrómetro de platina | Retícula de ocular | Patrón de conteo o comparación |
|---|---|---|---|
| Dónde se sitúa | Micrómetro de platinaEn la platina, en el plano de la muestra | Retícula de ocularDentro del ocular, en la trayectoria de visión | Patrón de conteo o comparaciónEn el ocular o en un plano de cámara, según el diseño |
| Qué aporta | Micrómetro de platinaUna longitud física conocida para calibración | Retícula de ocularGraduaciones visibles sobre la imagen de la muestra | Patrón de conteo o comparaciónSubdivisión de campo o formas de comparación |
| Qué debe definirse primero | Micrómetro de platinaLongitud de escala, intervalos de división y exactitud | Retícula de ocularEspaciado de división, ancho de línea y diámetro de ajuste | Patrón de conteo o comparaciónGeometría del patrón: paso de rejilla, diámetros de anillo o divisiones angulares |
| Qué error aparece primero | Micrómetro de platinaUn factor de conversión que no coincide con la óptica en uso | Retícula de ocularLíneas gruesas o desenfocadas que dificultan juzgar los extremos | Patrón de conteo o comparaciónResultados de conteo o comparación que varían con la subdivisión elegida |
| Cómo se verifica | Micrómetro de platinaLeer frente a la escala del ocular a la ampliación de trabajo | Retícula de ocularCompruebe que ambas imágenes de escala coinciden en la vista | Patrón de conteo o comparaciónEl método ensayado con una muestra de referencia |
Una referencia de microscopio se cotiza en torno a dónde se sitúa y qué lee el método de ella. La colocación, el patrón y la intención de calibración fijan la mayor parte del plano.
No. Cada objetivo, y cualquier cambio en la óptica intermedia, cambia la relación entre las divisiones del ocular y las dimensiones de la muestra. Un factor es válido para la configuración óptica con la que se obtuvo; cambiar de ampliación sin recalibrar produce un error sistemático de tamaño que ninguna lectura cuidadosa elimina.
Un portaobjetos de calibración de microscopio establece una longitud conocida en el plano de la muestra. Un micrómetro de ocular o una graticule aporta la escala vista con la imagen; calibre sus divisiones con un micrómetro de platina en la configuración óptica de trabajo.
Las películas poliméricas indexadas ayudan a reubicar regiones de observación. Los componentes de cámara de conteo definen otra interfaz de muestra, mientras que las rejillas TEM admiten especímenes de microscopía electrónica. Elija el componente según su material y su papel en el instrumento.
Graduaciones para medición visual calibrada de longitudes.
Una referencia de longitud para píxeles o divisiones de ocular.
Seleccione patrones de medición y conteo para un ocular.
Seleccione escalas de calibración de plano de muestra de un eje o XY.
Subdivisiones de campo para conteo sistemático.
Anillos de comparación para características circulares y tamaños de partícula.
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