단일 위치 분석
1개의 가장자리는 반복 초점 또는 집합 비교를 위한 국부적으로 분석 지역을 제공합니다. 그것의 크기는 가장자리의 양측에 충분한 화소를 떠나야 합니다.
맞춤형 경사 에지 MTF 시험 타깃
가장자리에서 날카로움을 측정합니다.
카메라와 렌즈의 SFR 분석용 맞춤형 유리 경사 에지 MTF 타깃입니다. 에지 각도, 대비, 에지 품질, 유효 영역 및 기판을 지정하세요.
제품 선택
제품 개요 및 기능
slanted-edge Target은 소프트웨어 기반 공간 주파수 응답 분석을위한 정의 된 밝은 / 어두운 경계를 제공합니다. 소프트웨어는 가장자리 프로파일을 재구성하고 다른 주파수에서 기록 된 이미지 전송 세부 사항을 계산합니다.
그것을 선택할 때
초점, 가늠구멍 또는 현장 위치를 호환 SFR 방법으로 비교하십시오. 보고된 응답은 렌즈, 감지기 및 기록한 이미지 처리를 포함합니다.
에지 기하 및 샘플링
경사 에지 MTF 타깃은 제어된 광강도 경계를 카메라에 제공합니다. 샘플링한 에지 분석을 통해 선택한 시험 방법에 따른 공간 주파수 응답(SFR)과 변조 전달 함수(MTF)를 추정합니다.
제어된 가장자리는 캡처된 이미지에서 공간 주파수 응답 분석을 지원합니다. 이미지 샘플링과 분석 방법에 의해 사용되는 ROI에 관계되는 가장자리 각도를 정의합니다.
| 에지 기하 | 가장자리 길이, straightness, 전환 질 및 오리엔테이션 |
|---|---|
| 대비 | 파장과 조명에 대한 밝은 / 어두운 응답 정의 |
| 방법 | 분석 방법/버전, 샘플링 및 이미지 처리 설정 지정 |
분석 방법, 에지 대비 및 촬영 조건을 명시하세요. 일반적인 경사 에지가 자동으로 ISO 12233 차트가 되는 것은 아닙니다. 표준 전용 배치는 필요한 판본과 방법에 맞춰 합의해야 합니다.
포커스와 시야에 걸친 이미지 응답 비교
다중 위치 배치
Distributed Edges 지원 센터, 가장자리 및 코너 비교와 같은 캡처 설정. 가장자리 방향은 필수 오리엔테이션을 위해 선택될 수 있습니다.
분석 방법의 가장자리 일치
| 선택 | 선정 기준 |
|---|---|
| 각도 및 유효 에지 길이 | 선택된 지역을 위한 소프트웨어와 충분한 가장자리 길이에 의해 지원되는 각을 사용하십시오. 이미지 축선의 가까이에 작은 slant는 일반적입니다. |
| 대비 및 조명 | 투과 또는 반사 대비를 측정 방식과 카메라 응답에 맞추고 밝은 영역의 포화를 피하세요. |
| 패턴 분포 | 로컬 또는 다중 필드 지역을 선택할 수 있습니다. |
유리 위의 크롬 에지는 호환되는 투과 시험에 적합합니다. 이진 크롬 에지가 자동으로 저대비 반사 차트나 완전한 ISO 시험 차트가 되는 것은 아닙니다.
대조, 가장자리 방향 및 분석 영역를 선택하십시오EN이 제품이 사용되는 곳
소프트웨어 기반 SFR / MTF 분석을위한 샤프 가장자리.
검사 및 납품
Inspect 가장자리 straightness, 가장자리 결점, 각 및 명확한 지역 청결. 가장자리 품질이 측정 대역폭을 특징으로하는 방법.
선택한 에지 배치, 극성 및 기판 규격의 유리 타깃을 주문에서 지정한 에지 검사 기록과 함께 공급합니다.
자주 묻는 질문
타깃만으로 MTF 결과가 나오나요?
아니요. SFR/MTF는 정의된 조건에서 촬영하고 분석한 이미지로 계산합니다. 타깃 품질은 전체 측정 과정의 한 요소입니다.
이 제품의 기술 가이드
제조 역량
일부 제품 상세 및 기술 페이지는 영어로만 제공됩니다. EN 표시가 있는 링크는 영어 페이지로 연결됩니다.