시료면에서 교정
스테이지 마이크로미터는 시료가 있는 곳에 기지의 물리 길이를 두고, 접안 레티클은 관찰 광로에 눈금을 겹칩니다. 두 스케일을 함께 보면 그 광학 구성의 눈금당 길이가 나옵니다. 데이터시트나 다른 대물의 계수는 이 구성의 교정이 아닙니다.
현미경 측정 및 분석
시료 측정 전 관찰계를 교정해 현미경 눈금을 신뢰할 수 있는 물리 길이로 바꿉니다.
눈금은 교정 후에야 길이를 의미합니다
측정 현미경에서 관찰자가 읽는 것은 눈금입니다. 시료 상에 겹쳐진 접안 눈금입니다. 이를 길이로 바꾸려면 시료면의 기지 물리 기준, 실제 사용 배율에서의 교정, 측정/계수 방법에 맞는 패턴이 필요합니다. TL OPTIK은 유리 스케일과 레티클을 공급하고, 현미경·대물·분석 소프트웨어는 장비 측의 것입니다.
광학계가 바뀌면 재교정
대물, 접안 또는 중간 광학계를 바꾸면 각 눈금의 의미가 달라집니다. 환산 계수는 도출에 쓴 대물·접안·배율과 함께 기록하고, 변경 후 다시 설정해야 합니다. 배율 간에 계수를 재사용하면 그것으로 한 모든 판독에 체계적 크기 오차가 생깁니다.
패턴을 방법에 맞추기
리니어 스케일, 그리드, 링, 각도 분할은 길이 측정, 체계적 계수, 크기 비교, 방향 확인 등 서로 다른 프로토콜에 쓰입니다. 계수 규칙과 샘플링 영역은 방법이 정하고 유리가 정하지 않으며, 레티클은 기하 기준을 제공합니다. 장착 직경, 두께, 초점면 위치가 방법이 필요로 하는 곳에 패턴을 설치할 수 있는지를 결정합니다.
현미경 교정의 세 가지 부품 역할
| 선정 포인트 | 스테이지 마이크로미터 | 접안 레티클 | 계수 또는 비교 패턴 |
|---|---|---|---|
| 배치 위치 | 스테이지 마이크로미터스테이지 위, 시료면 | 접안 레티클접안 내부, 관찰 광로 | 계수 또는 비교 패턴설계에 따라 접안 또는 카메라 면 |
| 제공 항목 | 스테이지 마이크로미터교정용 기지의 물리 길이 | 접안 레티클시료 상 위에 보이는 눈금 | 계수 또는 비교 패턴시야 분할 또는 비교 형상 |
| 먼저 정의할 항목 | 스테이지 마이크로미터스케일 길이, 눈금 간격 및 정확도 | 접안 레티클눈금 간격, 선폭 및 장착 직경 | 계수 또는 비교 패턴패턴 형상: 그리드 피치, 링 직경 또는 각도 분할 |
| 먼저 드러나는 오차 | 스테이지 마이크로미터사용 중인 광학계와 맞지 않는 환산 계수 | 접안 레티클끝점 판정을 어렵게 하는 두껍거나 초점 벗어난 선 | 계수 또는 비교 패턴선택한 분할에 따라 달라지는 계수 또는 비교 결과 |
| 검증 방법 | 스테이지 마이크로미터작업 배율의 접안 스케일에 맞춰 판독 | 접안 레티클두 스케일 상이 시야에서 일치하는지 확인 | 계수 또는 비교 패턴기준 시료로 연습한 방법 |
현미경 레티클 또는 스테이지 스케일 문의 정보
현미경 기준은 배치 위치와 방법이 무엇을 읽는지에 맞춰 견적됩니다. 배치, 패턴, 교정 의도가 도면 대부분을 정합니다.
- 부품이 스테이지용인지 접안 내부용인지, 그리고 차지해야 할 광학면
- 패턴: 리니어 스케일, 그리드, 링, 각도 분할 또는 방법 고유 계수 레이아웃
- 장착 직경, 두께, 자재 및 마운트 대비 초점면 위치
- 작업 배율 범위와 교정이 커버해야 할 간격
- 프로토타입 또는 반복 주문, 필요한 검사 기록, 부품 마킹·포장 방식
하나의 교정 계수가 모든 대물렌즈에 통하나요?
아니요. 각 대물과 중간 광학계의 변경은 접안 눈금과 시료 치수의 관계를 바꿉니다. 계수는 도출한 광학 구성에서만 유효하며, 재교정 없이 배율을 바꾸면 아무리 신중히 읽어도 사라지지 않는 체계적 크기 오차가 생깁니다.
측정 기준 선택
현미경 교정 슬라이드는 시료면의 기지 길이를 설정합니다. 접안 마이크로미터 또는 그래티큘은 상과 함께 보이는 스케일을 제공하며, 작업 광학 구성에서 스테이지 마이크로미터로 눈금을 교정합니다.
시료 위치 지정 또는 지지
인덱싱된 폴리머 필름은 관찰 영역 재배치에 도움이 됩니다. 계수 챔버 부품은 다른 시료 인터페이스를 정의하고, TEM 그리드는 전자현미경 시료를 지원합니다. 재료와 장비 내 역할로 부품을 선택하세요.
이 응용용 부품
기타 관련 제품 및 구성
스테이지 마이크로미터EN
1축 또는 XY 시료면 교정 스케일을 선택합니다.
계수 그리드 레티클EN
체계적 계수용 시야 분할.
단판 유리 레티클 및 눈금판
원형 피처 및 입자 크기용 비교 링.
관련 응용
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이 응용 상담현미경 부품 및 액세서리
시료 지지 그리드, 인덱스 필름 및 계수 챔버 부품입니다. 현미경 작업에 필요한 재료와 인터페이스를 선택하세요.
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